红外干货- OMNIC数据处理之再处理

匹配分辨率

若将一种样品的谱图与其它低分辨率下测得的样品谱图相比较，可将此样品谱图再处理成需要比较的分辨率下的谱图。

匹配切趾

由于切趾影响谱图的视觉分辨率，“切趾函数"的选择可以让它们的切趾函数类型相匹配，这样就可以在同一基础上对比谱图了。

匹配填零

填零和分辨率共同决定了数据间隔，填充零可以在采集的数据点之间添加数据点来改善谱线的形状。使用填充零时，谱线尖锐部位变得更平滑，更象典型的谱峰，选择1级是在每个数据点之间添加一个数据点，选择2级是在每个数据点之间添加三个数据点，可以使谱带形状更好。

改变格式

可利用“丫轴格式"改变谱图的格式，使它们具有相同的Y轴单位。

改变校正类型

谱图修正可以进行 Kramers-Kronig 校正，将镜反射附件采集的谱图纵坐标转换成吸光度时使用;ATR校正，ATR附件采集的谱图需要和透射法采集的谱图进行比较时使用，还可以减少水和二氧化碳干扰。

改变谱图范围

比如所存储谱图数据的范围是8000到400cm-1，但后来发现只有1800-700 cm-1范围内的数据是有用的，或者是发现由于使用太小的区域存储数据导致丢失了有用数据，也可以通过在更大的存储区域内再处理数据而得到弥补，点击“谱图存储范围"进行更改即可。

替换背景谱图

点击“背景谱图文件"下方的“浏览",打开新背景光谱,就可以替换原来谱图的背景谱图。

还可以还原谱图的初始数据，恢复任何空白的谱图区域或被直线代替的区域。选中需要处理的光谱打开“再处理",点击“确定"即可。

但是得注意!

采集的谱图如需进行再处理，前提条件是谱图的原始数据已保存，否则无法进行再处理，在采集谱图的时候，点击“实验设置"，点击“采集"将文件处理右下方“保存干涉图"勾选上采集好的谱图后续即可进行再处理。