赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪

简要描述：赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪可进行全自动、高通量的表面分析，提供用于推进研发或解决生产问题的数据。集成 XPS 与离子散射谱(ISS)、紫外光电子能谱 (UPS)、反射电子能量损失谱(REELS)和拉曼光谱，让您进行真正的联用分析。

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厂商性质：生产厂家
更新时间：2024-02-21
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品牌	Thermofisher Scientific/赛默飞世尔	窗口类型	-
探测器面积	-mm	最大计数率	-cps
峰背比	-	分辨率	-eV
价格区间	40万-50万	探测器类	锂漂移硅探测器Si(Li)
仪器种类	进口	应用领域	环保,化工,生物产业,石油,制药

赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪标准化性能：

· 绝缘体分析

· 高性能XPS性能

· 深度剖析

· 多技术联合

· 双模式离子源，使深度剖析功能得到扩展

· 用于 ARXPS 测量的倾斜模块

· 用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件

· 小束斑分析

可选的升级：可将多种分析技术集成到您的检测分析中。式自动运行

· ISS：离子散射谱，分析材料表面1-2原子层元素信息，通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。

· UPS：紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息

· 拉曼：拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息

· REELS：反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息

赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪应用领域

· 电池

· 生物医药

· 催化剂

· 陶瓷

· 玻璃涂层

· 石墨烯

· 金属和氧化物

· 纳米材料

· OLED

· 聚合物

· 半导体

· 太阳能电池

· 薄膜

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